實(shí)驗(yàn)預(yù)約
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印度BIS認(rèn)證、韓國(guó)KC認(rèn)證、國(guó)際電工委員會(huì)CB認(rèn)證等
隨著科技的不斷進(jìn)步，硅片在半導(dǎo)體和電子行業(yè)中的應(yīng)用日益廣泛。然而，硅片表面金屬沾污問題一直是制約其性能的重要因素之一。為了更準(zhǔn)確地檢測(cè)和分析硅片表面金屬沾污情況，全反射X光熒光光譜測(cè)試方法應(yīng)運(yùn)而生。 全反射X光熒光光譜…
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